CT with Non-Standard Trajectory: from Concept to Product
Speaker
A/Prof. He-Wei Gao
Tsinghua University
Abstract

X射线CT技术已被广泛应用于医学诊疗、安全检查与工业无损检测等诸多领域,且成果卓著。近年来,社会重大需求与相关技术进步,推动CT成像基础理论与前沿应用研究快速发展,但也带来了新的问题和挑战。本报告将简单回顾CT成像的发展历程,介绍非标准轨迹,特别是直线轨迹CT扫描成像的基本原理、关键技术及其最新应用研究等

About the Speaker

高河伟,清华大学工程物理系副教授。1999年考入清华大学工程物理系, 2003年本科毕业,2008年获博士学位。先后在美国斯坦福大学、美国通用电气和加州硅谷Reflexion医疗公司工作学习。2018年全职回国,加入清华大学工程物理系粒子信息获取与处理研究室, 入选国家“千人计划”青年项目。主要从事辐射成像,特别是X射线计算机断层成像(CT)相关的前沿科学研究与技术创新,及其在医学诊疗、安全检查中的应用等。

Date&Time
2020-01-07 10:00 AM
Location
Room: A303 Meeting Room
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