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结构缺陷对石墨烯类材料功能化的影响
    
     

  

  郭俊杰 博士

 美国橡树岭国家实验室

 

报告摘要: 石墨烯、氮化硼等单层片状的二维晶体材料是现代材料科学发展的重要里程碑。为了避免高能电子束的辐照损伤,通过完善球差矫正器来提高电子显微镜在较低加速电压下(60-80 kV)的空间分辨率成为直接观察二维晶体材料的有效途径。因此对材料在原子尺度上的微观结构和缺陷信息的提取及研究具有重大的意义。

报告人简介: 郭俊杰,2010年10月取得日本东北大学博士学位,师从陈明伟教授,研究极端高压条件下材料的变形行为。2011年2月-2014年9月在美国橡树岭国家实验室STEM课题组与Stephen Pennycook和Matthew Chisholm合作,从事电子显微学在先进功能材料超微观结构表征中的应用。致力于对先进功能材料微观结构进行系统研究,建立先进材料微观结构与性能之间的关系,探索提高材料性能的新途径。在国际/国内学术会议上做口头报告10余次,获得国家发明专利授权6项。发表论文40余篇,近年来以第一/通讯作者的文章发表在Nature Communications 3篇、Small 1篇、Acta Materialia 1篇、Physical Review B 1篇、Applied Physics Letter 3篇,Materials Chemistry & Physics 2篇, 被引用300余次。近年来的主要研究方向: 1) 电子显微学 (球差矫正扫描透射显微技术以及波函数重构技术,电子能量损失谱等) 在先进物质超微观结构表征中的应用; 2) 石墨烯、多孔碳等低维sp2杂化纳米碳材料控制生长及结构调控;原子缺陷及异质掺杂原子与物理化学性能关联表征,探索其在能源存储和转化等方面的应用; 3) 碳化硼和氮化铝等高强度陶瓷材料的结构和物性关联表征,研究其高压相变、小尺度塑性变形等物理性能。

Date&Time: October 13, 2014(Monday), 10:30 – 11:30 a.m.
Location: 606 Conference Room



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