X射线CT技术已被广泛应用于医学诊疗、安全检查与工业无损检测等诸多领域，且成果卓著。近年来，社会重大需求与相关技术进步，推动CT成像基础理论与前沿应用研究快速发展，但也带来了新的问题和挑战。本报告将简单回顾CT成像的发展历程，介绍非标准轨迹，特别是直线轨迹CT扫描成像的基本原理、关键技术及其最新应用研究等。

高河伟，清华大学工程物理系副教授。1999年考入清华大学工程物理系， 2003年本科毕业，2008年获博士学位。先后在美国斯坦福大学、美国通用电气和加州硅谷Reflexion医疗公司工作学习。2018年全职回国，加入清华大学工程物理系粒子信息获取与处理研究室, 入选国家“千人计划”青年项目。主要从事辐射成像，特别是X射线计算机断层成像（CT）相关的前沿科学研究与技术创新，及其在医学诊疗、安全检查中的应用等。